トリケップス文献調査用資料 CD-WS119

磁性薄膜の測定法

刊行月:1990年12月、価格:43,890円(税込)
体裁:CDR、206頁
監 修 
 猪俣浩一郎 株式会社東芝
執筆者 
 宮島英紀 慶應義塾大学 理工学部 物理学科 助教授
 猪俣浩一郎 株式会社東芝 総合研究所 金属セラミック材料研究所 研究主幹
 高橋 研 東北大学 工学部 電子工学科 助教授
 奥野 光 千葉大学 工学部 電気電子工学科 助教授
 小池和幸 株式会社日立製作所 基礎研究所 主任研究員
 松山秀生 株式会社日立製作所 基礎研究所 研究員
 片山利一 工業技術院 電子技術総合研究所 量子材料研究室 主任研究員
 柳沢雅広 日本電気株式会社 機能エレクトロニクス研究所 記憶研究部 研究課長

内容項目

第1章 磁性の基礎
 1 概説磁気の単位系
  1.1 SI単位系
  1.2 cgs単位系の特徴
 2 磁性概説
  2.1 物質の磁性
  2.2 磁性体の種類
  2.3 磁性薄膜の特徴
 3 磁性体の磁化
  3.1 磁化の発現機構
  3.2 磁化の温度・磁場依存性
  3.3 金属・合金の磁化
  3.4 酸化物・化合物の磁化
 4 磁気異方性と磁歪
  4.1 磁気異方性とその発現機構
  4.2 磁歪とその発現機構
 5 磁気構造
  5.1 磁壁
  5.2 磁区
 6 磁化過程
  6.1 磁壁移動過程と回転磁化過程
  6.2 磁気ヒステリシス環線
 7 電流磁気効果
  7.1 電流抵抗
  7.2 電流磁気効果
  7.3 ホール効果
  7.4 磁気抵抗効果
第2章 磁気異方性の測定法
 1 緒言
 2 磁気曲線による磁気異方性の測定法
 3 トルク曲線による磁気異方性の測定法
  3.1 測定原理
  3.2 磁気異方性の求め方
  3.3 薄膜への適用例
 4 強磁性共鳴による磁気異方性の測定法
  4.1 磁性共鳴の理論
  4.2 磁気異方性がある場合の共鳴式
  4.3 薄膜への適用例
  4.4 人工格子膜への適用例
第3章 磁歪の測定法
 1 概説
 2 立法晶および六方晶での磁歪
  2.1 単結晶での磁歪
  2.2 多結晶および非晶質での磁歪
 3 光学的計測法
  3.1 計測原理と測定法
  3.2 各種薄膜への適用例
 4 その他の計測法
第4章 磁区観察法
第1節 磁区観察法-1
 1 ビッター法
  1.1 試料の表面処理
  1.2 強磁性コロイド
  1.3 磁区図形観察法
 2 磁気光学的方法
  2.1 システムの概要
  2.2 画像処理法
  2.3 磁区画像
 3 ローレンツ顕微鏡法
  3.1 デフォーカス法
  3.2 スリット法
第2節 磁区観察法-2~スピン偏極走査電子顕微法
 1 概説
 2 磁区観察の原理と装置の構造
 3 特長
 4 画像取得時間の短縮
 5 応用例
  5.1 磁気ディスクの記録状態
  5.2 磁気多層膜の端面観察
 6 まとめ
第5章 ソフト磁性膜の磁気測定法
 1 直流磁化曲線の測定法
  1.1 誘導法
  1.2 積分方法
  1.3 薄膜測定の問題点
 2 高周波透磁率の測定法
  2.1 複素透磁率
  2.2 測定の実際
 3 高周波損失の測定法
  3.1 損失の表現法
  3.2 小振幅励磁の損失測定
  3.3 大振幅励磁の損失測定
第6章 記録用磁性薄膜の測定法
 1 はじめに
 2 薄膜構造の測定法
 3 垂直磁化膜の磁気測定法
  3.1 磁化測定
  3.2 垂直磁気異方性エネルギーの測定法
 4 光磁気記録用薄膜の磁気光学効果測定法
  4.1 磁気光学効果とは
  4.2 磁気光学カー効果(またはファラデー効果)の測定法
 5 人工格子の構造評価と巨視的な磁気測定
 6 表面磁性の評価と表面磁気光学効果(SMOKE)
 7 まとめ
第7章 薄膜のミクロ磁気測定法
 1 緒言
 2 核磁気共鳴吸収(NMR)
  2.1 NMRの原理
  2.2 NMRのデータ解析
  2.3 スピンエコー法
  2.4 薄膜への適用例
 3 メスバウアー分光法
  3.1 原理
  3.2 内部転換電子メスバウアー分光法
  3.3 メスバウアースペクトルから得られる情報
  3.4 メスバウアー効果の観測できる原子核
  3.5 測定装置と測定法
  3.6 薄膜への適用
 4 スピン偏極光電子分光
  4.1 測定の原理
  4.2 電子のスピン偏極度の測定
  4.3 スピン偏極逆電子分光法
  4.4 スピン偏極電子線エネルギー損失分光
第8章 薄膜の基本特性の測定法
 1 薄膜の摩擦・摩耗特性の測定法
  1.1 摩擦特性
  1.2 薄膜の磨耗特性
 2 薄膜の膜厚測定法
 3 薄膜の機械的特性評価法
  3.1 薄膜の機械的特性
  3.2 薄膜の機械的性質の測定法
  3.3 装置構造および測定原理
  3.4 測定例
  3.5 高速引掻試験機の構造
  3.6 薄膜の疲労試験機の構造



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